Newsletters

Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000 II/TM4000Plus II

Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM1000 II Hitachi

MEB polyvalent à pression variable SU3800

MEB très grande chambre à pression variable SU3900

Microscope Electronique à Transmission basse tension HT-7800 Hitachi

Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau

Polisseur ionique IM4000 Plus/ArBlade 5000 Hitachi

IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »

IBSS Nettoyeur plasma « ex-situ »

Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416

WILDFIRE, CHAUFFAGE MET IN-SITU DENSsolutions

LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions

CLIMATE, GAZ ET CHAUFFAGE IN-SITU DENSsolutions

STREAM, LIQUIDE ET POLARISATION OU CHAUFFAGE IN-SITU DENSSOLUTIONS

Porte-échantillon cryo double grille pour MET, SIMPLE ORIGIN

Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET SIMPLE ORIGIN

NOUVEAU SYSTÈME EBSD THERMO SCIENTIFIC LUMIS

S neox : profilomètre optique 3D hautes performances

S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes

S lynx : profilomètre optique 3D compacte

S wide : profilomètre optique 3D grande surface

S mart : module optique 3D

S onix : module optique 3D ultra rapide

« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR

Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V