Products | Milexia France

Microscopie Electronique à Balayage

Microscopie Electronique à Balayage de table

Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000 II/TM4000Plus II

Microscopie Electronique à Balayage compact

Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM1000 II Hitachi

Microscope Electronique à Balayage à pression variable

MEB polyvalent à pression variable SU3800

MEB très grande chambre à pression variable SU3900

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable SU 5000

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ

MEB à effet de champ Regulus 8220, Regulus 8230, Regulus 8240 : MEB ultra-haute résolution

MEB à effet de champ Regulus 8100 : MEB haute résolution à cathode froide

MEB à effet de champ SU 9000: MEB Ultra-haute résolution à cathode froide

FIB Focus Ion Beam

FIB Focus Ion Beam NX-2000 Hitachi

NX 9000 Hitachi

Microscopie Electronique à Transmission

Microscope Electronique à Transmission basse tension

Microscope Electronique à Transmission basse tension HT-7800 Hitachi

Microscope Electronique à Transmission haute tension

Microscope Electronique à Transmission haute tension H-9500 Hitachi

Microscope Electronique à Transmission haute tension HF-3300 Hitachi

STEM Scanning par transmission

STEM Scanning par transmission HD-2700 Hitachi

FIB

FIB triple faisceau

Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau

Equipements / Accessoires pour Microscopie Electronique

Equipements de préparation d'échantillons pour MEB

Polisseur ionique IM4000 Plus/ArBlade 5000 Hitachi

Nettoyeur UV : ZONE sem Hitachi

Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies

Évaporateurs Quorum Technologies

Platines cryogéniques Quorum Technologies

Point critique Quorum Technologies

Lyophilisateurs Quorum Technologies

Réacteurs à Plasma Quorum Technologies

Décharge luminescente Quorum Technologies

Sas et Platine Froide

IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »

Equipements de préparation d'échantillons pour MET

Nettoyeur UV: ZONE tem Hitachi

Glow Discharge GloQube Quorum Technologies

IBSS Nettoyeur plasma « ex-situ »

Liquide Ionique pour MEB et MET

HiLEM IL1000

Accessoires pour MEB

Détecteurs BSE Deben - KED

Détecteurs STEM Deben - KED

Détecteur de cathodoluminescence Deben - KED

Caméra infrarouge Deben- KED

Accessoires divers Deben - KED : EBIC, picoampèremètre...

Modules pour informatiser des MEB analogiques Quartz

Bases de données images Quartz

Serveur pour la gestion d'un parc d'équipements Quartz

Contrôle de MEB à distance Quartz

Caméras pour MET

Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416

CCD and CMOS Cameras AMT

AMT (Advanced Microscopy Techniques) offers a wide range of cameras of all brands for TEM (FEI, Hitachi, JEOL, ZEISS).

Porte-Echantillons/Systèmes pour MET

WILDFIRE, CHAUFFAGE MET IN-SITU DENSsolutions

LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions

CLIMATE, GAZ ET CHAUFFAGE IN-SITU DENSsolutions

STREAM, LIQUIDE ET POLARISATION OU CHAUFFAGE IN-SITU DENSSOLUTIONS

Porte-échantillon cryo double grille pour MET, SIMPLE ORIGIN

Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET SIMPLE ORIGIN

Microanalyse X

EDS avec cartographie spectrale

EDS avec cartographie spectrale Pathfinder Thermo Scientific

Pathfinder Compact avec cartographie spectrale Thermo Scientific

Détecteur Silicon Drift sans azote liquide

Détecteur SDD sans azote liquide Thermo Scientific Ultradry

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS) MagnaRay Thermo Scientific

EBSD

EBSD QuasOr 2 Thermo Scientific

NOUVEAU SYSTÈME EBSD THERMO SCIENTIFIC LUMIS

Profilomètres optiques

Profilomètres optiques 3D sans contact

S neox : profilomètre optique 3D hautes performances

S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes

S lynx : profilomètre optique 3D compacte

S wide : profilomètre optique 3D grande surface

Modules optiques pour visualisation de surfaces 3D

S mart : module optique 3D

S onix : module optique 3D ultra rapide

Microscopie à force atomique

Microscope à Champ Proche Infrarouge

« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR

Microscopie / Tomographie acoustique

Microscope / Tomographe acoustique Fine SAT V

Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V

Fluorescence X

Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 1000A

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 1200VX

Fluorescence X à dispersion d'énergie FT 150

Fluorescence X à dispersion d'énergie FT 110

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 6000

Analyse Thermique

STA Series

STA7000 Series

STA7200RV

DSC Series

DSC7000X Series

DSC7020

TMA Series

TMA7000

DMA Series

DMA7100

TA SOFTWARE

TA7000 SOFTWARE