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Please join the Hitachi High-Technologies Europe webinar on correlative AFM and SEM on November 15th, 11:00 CET/10:00 GMT.
We call this combination "SAEMic", Scanning Atomic force and Electron Microscopy.

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Sensofar a officiellement introduit son nouveau profilomètre optique multi-modes (Focus Variation, Confocal, Interférométrie) SNeox 5 Axis lors de l’exposition EMO 2019 à Hanovre à la mi-septembre. Cet équipement révolutionnaire permet d’imager en 3 dimensions des pièces compliquées grâce à une toute nouvelle platine à mouvements multi-directionnels. La combinaison des modes permet à la fois de mesurer les formes mais aussi les rugosités fines sur des pièces complexes.

Le 24 Septembre 2019, a été célébrée l'inauguration officielle du laboratoire de recherche commun HC-IUMI entre la société Hitachi et le CNRS. Cet évènement s'est déroulé au CEMES à Toulouse en présence des équipes du CEMES et d'Hitachi, de nombreux invités impliqués dans la construction de ce très beau projet. Les communautés scientifiques française et internationale étaient dignement représentées. Mais, il ne s'agit que d'une étape dans la mise au point et l'optimisation d'un nouveau MET de nouvelle génération ultra rapide.

Découvrez les dernières vidéos du Dr NOZMAN faites sur notre MEB de table Hitachi TM4000Plus :

Hitachi, leader mondial sur le marché des MEB de table avec plus de 4400 unités installées dans le monde, introduit ses nouveaux modèles, le TM4000 II/TM4000Plus II. D’intéressantes innovations sont incorporées telles que la possibilité de travailler jusqu’à 20kV et un logiciel très performant d’acquisition automatique de grands champs multiples « Multi Zigzag ».

MILEXIA France et DENSsolutions ont conclu un accord de représentation pour la France, la Belgique wallonne et le Luxembourg.

DENSsolutions est une société spécialisée dans le développement, la mise au point et la commercialisation de systèmes spécifiques à la microscopie électronique à transmission, adaptés à des expérimentations « in-situ ». Ces systèmes sont compatibles avec les MET de toutes marques (Jeol, Thermo Scientific, Hitachi)

https://denssolutions.com

Dr Nozman (Youtubeur très connu, spécialisé en vulgarisation scientifique) est venu nous rendre visite chez MILEXIA FRANCE pour tester notre MiniMEB Hitachi TM4000Plus.

Quelle fierté !!!

Cliquez ci-dessous pour voir la vidéo :

Si vous avez des questions concernant nos équipements, n'hésitez pas à nous contacter.

Le Chiaro est une variante améliorée du MCA pour répondre aux exigences et aux méthodes innovantes d’observation au MET notamment pour les porte-échantillons utilisant des échantillons gazeux et liquides. Il permet entre autres le contrôle des fuites, des puces E-Chip, l’hydrophilisation de la surface des échantillons en plus du nettoyage par plasma. Le chargement des porte-échantillons MET, facilité par sa porte pivotante, peut être contrôlé en observant à travers la loupe binoculaire offrant jusqu’à x5 de grandissement. Le tout pouvant être enregistré via une caméra intégrée.

Hitachi High Technologies confie la représentation de sa gamme de microscopes à force atomique/à champ proche de laboratoire (AFM) à Milexia France

Trois modèles sont commercialisés :
AFM 5100N : compact, polyvalent, multi-modes
AFM 5300E : pour les mesures en conditions « environnementales » (sous vide, en température, sous humidité contrôlée, en milieu liquide)
AFM 5500 : pour les grands échantillons, automatisé, avec fonction d’imagerie corrélative SAEMIC (AFM/MEB)

Nous avons assuré le service et l’assistance technique pour de nombreux produits Emitech et Polaron devenus obsolètes au fil du temps. Quorum et par conséquence Milexia ne peuvent malheureusement plus assurer l’approvisionnement des pièces détachées pour un certain nombre d’équipements, devenus trop anciens.

En revanche, Milexia et Quorum assurent toujours l’approvisionnement de plusieurs consommables tels que les cibles, les tresses et les crayons de carbone. Cette liste n’est pas exhaustive, n’hésitez pas à nous consulter.

Vous trouverez, ci-dessous, la liste des produits concernés.

La liste complète des équipements Quorum obsolète est disponible en cliquant ici.

Nous pouvons vous proposer des solutions alternatives avec reprise de votre équipement.

Si vous êtes intéressés, merci de nous faire parvenir votre réponse avant fin septembre par mail: camille.soukhavong@milexia.fr

Une solution peu onéreuse et extrêmement simple de mise en œuvre pour supprimer les dépôts hydrocarbonés en surface de vos échantillons avant leur observation au microscope électronique à balayage.

Cette caméra très haute sensibilité de technologie CMOS est particulièrement bien adaptée aux Sciences de la Vie. Le capteur ultra large contient 43 Mega pixels.

L’ AMT Nano Sprint 43 peut être installée en position « Bottom View » ou en position « Side View ».

Les MEB Hitachi SU3800 et SU3900 intègrent une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

HITACHI HIGH TECHNOLOGIES introduit un nouveau détecteur d’électrons transmis « STEM » spécifique pour ses MEB de table et MEB compact (TM4000 Plus, Flex SEM) ainsi que pour sa gamme de MEB à filament de tungstène.

Très simple de mise en place et de mise en œuvre, ce détecteur augmente considérablement les possibilités d’observation déjà fort intéressantes des modèles notamment des modèles TM4000Plus et Flex SEM, déja équipés de détecteurs SE et BSE.

La société Sensofar, un des leaders mondiaux dans le domaine de la profilomètrie optique sans contact a choisi Milexia France pour commercialiser ses équipements de la gamme « metrology » sur le marché français.

Deux nouveaux modèles sont introduits :

-S neox

-S neox Five Axis

Venez rencontrer Milexia France et les spécialistes de Sensofar lors du salon Forum Labo (du 26 au 28 mars)

Toujours plus polyvalent, ce microscope électronique à balayage peut être utilisé comme MEB de table (Tabletop SEM, MEB de paillasse) ou comme MEB conventionnel.

Le nouveau détecteur UVD 2.0, spécifique au mode « pression variable » ou « low vacuum » a un rapport signal sur bruit amélioré de 50% et produit des images topographiques très fines.

En mode vide poussé, le détecteur UVD 2.0 peut être utilisé comme un détecteur de cathodoluminescence. Il complète les détecteurs standards d’électrons secondaires Everhart-Thornley (SE) et d’électrons rétrodiffusés haute sensibilité à 5 segments (BSE). Un logiciel très performant de reconstruction d’images 3D, développé en collaboration avec la société Digital Surf, renseigne quantitativement sur le rugosité de l’échantillon et ses caractéristiques de surface.

Un système de prise de vue optique de l’échantillon, en couleur, permet un repérage facile et précis des zones à observer ensuite sous le faisceau d’électrons.

Pour plus d'information, cliquez ici

Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

Le SU7000 combine l’ultra haute résolution (moins d’1nm sur toute la gamme de tensions d’accélération) et des performances analytiques exceptionnelles (courant de sonde max de 200nA, distance analytique de 6mm pour tous les détecteurs).

Equipé d'une très grande chambre, le SU7000 dispose de 18 ports d’accès pour l’installation de dispositifs complémentaires. La platine eucentrique très grands déplacements, motorisée sur les 5 axes, est robuste et facilement accessible de l’extérieur de la chambre pour la mise en place des échantillons

Le SU7000 dispose du mode « Low vacuum », avec ajustement de la pression de consigne dans la chambre dans une large gamme, jusqu’à 300 Pa.

Cette page LinkedIn sera uniquement dédiée à la vie de notre département d’Instrumentation Scientifique et viendra compléter l’E-Actu. Nous y publierons les nouveautés de nos fournisseurs en direct, de nombreuses notes d’applications, nos participations aux salons et colloques... Nous vous réservons plein de surprises au cours de l’année 2019.

Rejoignez-nous vite sur notre page :

Le système EBSD Thermo Scientific™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinés.
 
Le capteur CMOS très faible bruit 2,3Mpixels, de forme octogonale, assure une efficacité de collection optimale.
La nouvelle électronique d’acquisition Pathfinder 2.0 garantit une vitesse d’acquisition et de traitement des clichés de diffraction impressionnante.
 
La suite logicielle sous Windows 10/64 bits met à la disposition des utilisateurs les outils de traitement les plus avancés (Boundary analysis, Texture analysis, Angular filtering, Schmid factor mapping, Pattern quality mapping, etc…)
 
Le détecteur FSD 5 segments, très haute sensibilité, produit des images de haute qualité, et renseigne ainsi l’utilisateur sur les informations structurales de son échantillon, les plus fines.

Notre nouveau catalogue pour les accessoires de MEB de table Hitachi est disponible en cliquant ici.

N'hésitez pas à nous contacter pour toutes demandes de prix.