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Pour participer, envoyez-nous avant le 15 de chaque mois votre image MEB sur : info.physique@milexia.fr

Please join the Hitachi High-Technologies Europe webinar on correlative AFM and SEM on November 15th, 11:00 CET/10:00 GMT.
We call this combination "SAEMic", Scanning Atomic force and Electron Microscopy.

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Sensofar a officiellement introduit son nouveau profilomètre optique multi-modes (Focus Variation, Confocal, Interférométrie) SNeox 5 Axis lors de l’exposition EMO 2019 à Hanovre à la mi-septembre. Cet équipement révolutionnaire permet d’imager en 3 dimensions des pièces compliquées grâce à une toute nouvelle platine à mouvements multi-directionnels. La combinaison des modes permet à la fois de mesurer les formes mais aussi les rugosités fines sur des pièces complexes.

Le 24 Septembre 2019, a été célébrée l'inauguration officielle du laboratoire de recherche commun HC-IUMI entre la société Hitachi et le CNRS. Cet évènement s'est déroulé au CEMES à Toulouse en présence des équipes du CEMES et d'Hitachi, de nombreux invités impliqués dans la construction de ce très beau projet. Les communautés scientifiques française et internationale étaient dignement représentées. Mais, il ne s'agit que d'une étape dans la mise au point et l'optimisation d'un nouveau MET de nouvelle génération ultra rapide.

MILEXIA France et DENSsolutions ont conclu un accord de représentation pour la France, la Belgique wallonne et le Luxembourg.

DENSsolutions est une société spécialisée dans le développement, la mise au point et la commercialisation de systèmes spécifiques à la microscopie électronique à transmission, adaptés à des expérimentations « in-situ ». Ces systèmes sont compatibles avec les MET de toutes marques (Jeol, Thermo Scientific, Hitachi)

https://denssolutions.com

Dr Nozman (Youtubeur très connu, spécialisé en vulgarisation scientifique) est venu nous rendre visite chez MILEXIA FRANCE pour tester notre MiniMEB Hitachi TM4000Plus.

Quelle fierté !!!

Cliquez ci-dessous pour voir la vidéo :

Si vous avez des questions concernant nos équipements, n'hésitez pas à nous contacter.

Le Chiaro est une variante améliorée du MCA pour répondre aux exigences et aux méthodes innovantes d’observation au MET notamment pour les porte-échantillons utilisant des échantillons gazeux et liquides. Il permet entre autres le contrôle des fuites, des puces E-Chip, l’hydrophilisation de la surface des échantillons en plus du nettoyage par plasma. Le chargement des porte-échantillons MET, facilité par sa porte pivotante, peut être contrôlé en observant à travers la loupe binoculaire offrant jusqu’à x5 de grandissement. Le tout pouvant être enregistré via une caméra intégrée.

Hitachi High Technologies confie la représentation de sa gamme de microscopes à force atomique/à champ proche de laboratoire (AFM) à Milexia France

Trois modèles sont commercialisés :
AFM 5100N : compact, polyvalent, multi-modes
AFM 5300E : pour les mesures en conditions « environnementales » (sous vide, en température, sous humidité contrôlée, en milieu liquide)
AFM 5500 : pour les grands échantillons, automatisé, avec fonction d’imagerie corrélative SAEMIC (AFM/MEB)

Nous sommes ravis d'annoncer l'expansion du groupe Milexia au Royaume-Uni et en Irlande à la suite de l'acquisition de Sematron UK Ltd. le 14 mai.

Vous trouverez le communiqué ci-dessous :

Nous avons assuré le service et l’assistance technique pour de nombreux produits Emitech et Polaron devenus obsolètes au fil du temps. Quorum et par conséquence Milexia ne peuvent malheureusement plus assurer l’approvisionnement des pièces détachées pour un certain nombre d’équipements, devenus trop anciens.

En revanche, Milexia et Quorum assurent toujours l’approvisionnement de plusieurs consommables tels que les cibles, les tresses et les crayons de carbone. Cette liste n’est pas exhaustive, n’hésitez pas à nous consulter.

Vous trouverez, ci-dessous, la liste des produits concernés.

La liste complète des équipements Quorum obsolète est disponible en cliquant ici.

Nous pouvons vous proposer des solutions alternatives avec reprise de votre équipement.

Si vous êtes intéressés, merci de nous faire parvenir votre réponse avant fin septembre par mail: camille.soukhavong@milexia.fr

Une solution peu onéreuse et extrêmement simple de mise en œuvre pour supprimer les dépôts hydrocarbonés en surface de vos échantillons avant leur observation au microscope électronique à balayage.

Cette caméra très haute sensibilité de technologie CMOS est particulièrement bien adaptée aux Sciences de la Vie. Le capteur ultra large contient 43 Mega pixels.

L’ AMT Nano Sprint 43 peut être installée en position « Bottom View » ou en position « Side View ».

Les MEB Hitachi SU3800 et SU3900 intègrent une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

HITACHI HIGH TECHNOLOGIES introduit un nouveau détecteur d’électrons transmis « STEM » spécifique pour ses MEB de table et MEB compact (TM4000 Plus, Flex SEM) ainsi que pour sa gamme de MEB à filament de tungstène.

Très simple de mise en place et de mise en œuvre, ce détecteur augmente considérablement les possibilités d’observation déjà fort intéressantes des modèles notamment des modèles TM4000Plus et Flex SEM, déja équipés de détecteurs SE et BSE.

26 au 28 Mars 2019

Forum Labo Porte de Versailles, Paris

Ce salon unique regroupe toutes les intervenantes et tous les intervenants du monde du laboratoire. Les inscriptions au Lab’meeting viennent d'ouvrir. Vous pouvez vous y inscrire à partir de ce lien : inscription au Lab'meeting ou prendre rendez-vous directement avec nous.

Venez-nous rencontrer avec les spécialistes de SENSOFAR au stand C19.

N’hésitez pas à nous demander un Pass visiteur !

Nous avons organisé les 29 et 30 janvier derniers, en collaboration avec l’Institut Charles Sadron (à Strasbourg) un workshop sur la cryo-microscopie électronique à balayage à haute résolution.

De nombreux échanges autour de cette technique entre des utilisateurs de tous niveaux ont permis d’aborder les problématiques du quotidien et de trouver des solutions concrètes grâce aux expériences de chacun.

Nos fournisseurs Hitachi et Quorum étaient également présents et ont pu partager leurs expertises auprès de ces utilisateurs.

Ce workshop fut une grande réussite. Encore un grand merci à l’Institut Charles Sadron de nous avoir accueillis dans leurs locaux et également un grand merci à tous les participants !

La société Sensofar, un des leaders mondiaux dans le domaine de la profilomètrie optique sans contact a choisi Milexia France pour commercialiser ses équipements de la gamme « metrology » sur le marché français.

Deux nouveaux modèles sont introduits :

-S neox

-S neox Five Axis

Venez rencontrer Milexia France et les spécialistes de Sensofar lors du salon Forum Labo (du 26 au 28 mars)

Toujours plus polyvalent, ce microscope électronique à balayage peut être utilisé comme MEB de table (Tabletop SEM, MEB de paillasse) ou comme MEB conventionnel.

Le nouveau détecteur UVD 2.0, spécifique au mode « pression variable » ou « low vacuum » a un rapport signal sur bruit amélioré de 50% et produit des images topographiques très fines.

En mode vide poussé, le détecteur UVD 2.0 peut être utilisé comme un détecteur de cathodoluminescence. Il complète les détecteurs standards d’électrons secondaires Everhart-Thornley (SE) et d’électrons rétrodiffusés haute sensibilité à 5 segments (BSE). Un logiciel très performant de reconstruction d’images 3D, développé en collaboration avec la société Digital Surf, renseigne quantitativement sur le rugosité de l’échantillon et ses caractéristiques de surface.

Un système de prise de vue optique de l’échantillon, en couleur, permet un repérage facile et précis des zones à observer ensuite sous le faisceau d’électrons.

Pour plus d'information, cliquez ici

Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

Le SU7000 combine l’ultra haute résolution (moins d’1nm sur toute la gamme de tensions d’accélération) et des performances analytiques exceptionnelles (courant de sonde max de 200nA, distance analytique de 6mm pour tous les détecteurs).

Equipé d'une très grande chambre, le SU7000 dispose de 18 ports d’accès pour l’installation de dispositifs complémentaires. La platine eucentrique très grands déplacements, motorisée sur les 5 axes, est robuste et facilement accessible de l’extérieur de la chambre pour la mise en place des échantillons

Le SU7000 dispose du mode « Low vacuum », avec ajustement de la pression de consigne dans la chambre dans une large gamme, jusqu’à 300 Pa.

Le système EBSD Thermo Scientific™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinés.
 
Le capteur CMOS très faible bruit 2,3Mpixels, de forme octogonale, assure une efficacité de collection optimale.
La nouvelle électronique d’acquisition Pathfinder 2.0 garantit une vitesse d’acquisition et de traitement des clichés de diffraction impressionnante.
 
La suite logicielle sous Windows 10/64 bits met à la disposition des utilisateurs les outils de traitement les plus avancés (Boundary analysis, Texture analysis, Angular filtering, Schmid factor mapping, Pattern quality mapping, etc…)
 
Le détecteur FSD 5 segments, très haute sensibilité, produit des images de haute qualité, et renseigne ainsi l’utilisateur sur les informations structurales de son échantillon, les plus fines.

Avancées en microscopie à force atomique : PinPoint & Microscopie à Force Piézoélectrique – une technique d'imagerie sans friction (Séminaire et démonstration)

DATE :

Mardi 20 novembre, 14h30-16h30

PROGRAMME :

14h30 : Accueil et introduction

14h40 : « PinPoint & Microscopie à Force Piézoélectrique – une technique d'imagerie sans friction »

15h30 : Démonstration de l’équipement AFM Park Systems NX10

16h15 : Discussion autour d’un verre

RESUME :

Le couplage électromécanique dans les matériaux est une propriété clé qui fournit des fonctionnalités à une variété d'applications, notamment les capteurs, les actionneurs, les détecteurs infrarouges, la récupération d'énergie et la biologie.

La plupart des matériaux présentent un couplage électromécanique dans des domaines de taille nanométrique. Par conséquent, pour comprendre les relations entre la structure et la fonction de ces matériaux, une caractérisation à l'échelle nanométrique est nécessaire. Cette propriété de couplage électromécanique peut être directement mesurée de manière non destructive en utilisant la microscopie à force piézoélectrique (PFM), une méthode bien établie en microscopie à force atomique.

La PFM conventionnelle est généralement réalisée en mode contact. Le mode contact présente toutefois des défis pour une grande variété d'échantillons (par ex. la caractérisation d'un film mince de phénanthrène recuit sur une surface d'ITO). La principale difficulté de l'imagerie de ces échantillons est due à la formation de nanostructures en forme de bâtonnets en couches minces de phénanthrène, très susceptibles d'être déplacées par une sonde AFM.

C'est la raison pour laquelle Park Systems a récemment développé le mode PinPoint PFM. Contrairement au mode contact standard, en mode PinPoint, la sonde AFM surveille son signal de retour, s’approche de la surface de l’échantillon jusqu’à ce que le seuil de force prédéfini soit atteint et mesure la hauteur du scanner Z. La sonde AFM est ensuite rapidement retirée de la surface à une hauteur définie par l'utilisateur. Pendant l'acquisition des données, le scanner XY arrête complètement le mouvement et aucun mouvement de sonde AFM ne se produit à aucun moment sur la surface de l'échantillon. Cela permet une représentation plus précise de la surface car les nanostructures ne sont pas déplacées de leur position d'origine.

Rejoignez le séminaire et la démonstration pour en savoir plus sur les avantages du mode PinPoint PFM sur un mode PFM conventionnel.

INTERVENANT :

Victor Bergmann – Ingénieur Applications Park Systems

Workshop en anglais.

Merci d'envoyer un email à margaux.welch@milexia.fr pour vous inscrire au workshop. Vous avez aussi la possibilité de vous inscrire sur place au stand « Milexia France » numéro 56.

Le Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Études Structurales (CEMES) du CNRS et l’entreprise Hitachi High Technologies Corporation (HHT) ont officialisé la création d’un laboratoire en commun international : « le premier entre CNRS et une entreprise étrangère ». Cette collaboration permettra le développement d’un nouveau microscope électronique à transmission ultra-rapide « capable de scruter les propriétés de la matière à de très petites échelles de temps et d’espace ». Pour plus d’informations sur ce partenariat inédit, retrouvez le communiqué de presse : ici

La gamme Q Plus (Q150R Plus, Q150T Plus, Q300T Plus) vient remplacer la gamme actuelle Q (Q150R, Q150T, Q300T) et offrent de nouvelles fonctionnalités : un nouvel écran tactile rapide et intuitif, un éclairage LED statuant sur l’état de votre cycle, une notification sonore lorsque votre processus est terminé, un port USB pour les mises à jour et les téléchargements de fichiers. En plus de ces nouveautés, une toute nouvelle série de système Q150V Plus vient compléter cette nouvelle gamme de Q Plus avec un vide ultime de 1 x10-6 mbar. La séries Q150V Plus est disponible en métalliseur Q150V S Plus, en évaporateur Q150V E plus mais aussi en un système combinant métalliseur et évaporateur Q150V ES Plus.

10 au 12 Octobre 2018 - TU Bergakademie Freiberg, en Allemagne

Ce tout 1er Forum NanoScientific Europe pour les utilisateurs AFM qui se concentrera sur le partage et l’échange de la recherche de pointe pour les matériaux et les sciences de la vie. Une session spéciale sera consacrée sur le sujet des « Nanobubbles », un des projets phare du TU Freiberg et de l’Institut Helmholtz Freiberg.

Pour plus d’informations, cliquez ici.

Rejoignez-nous à cette conférence en ligne gratuite en vous inscrivant dès aujourd’hui : Cliquez ici

Date : Mardi 20 Mars 2018 à 19h (durée 45 min environ)

Présenté par le Dr. Jim Kilcrease.

Résumé :

Avec 2018 vient une évolution des découvertes percutantes, des chiffres clés et des technologies de développement. Le domaine de la microscopie électronique est fidèle à cette notion et dévoile de nouveaux instruments pour répondre aux défis modernes.

Le microscope électronique à transmission (MET) est entré dans les domaines de la biologie et de la science des matériaux au début des années 1930, ajoutant de nouvelles possibilités au monde de la microscopie qui n'étaient pas réalisables auparavant. Aujourd'hui, les développements des principales caractéristiques des systèmes MET, y compris l'automatisation, les logiciels robustes, les designs numériques, l'ergonomie, la haute résolution et le contraste élevé, sont devenus une nécessité absolue. Pour satisfaire et dépasser ces besoins, la série Hitachi MET HT7800 a été développée.

Avec une résolution inférieure à 2 angströms et le contraste le plus élevé de sa catégorie, le HT7800 incorpore des technologies avancées pour fournir un microscope électronique capable de fonctionner facilement par de nouveaux ou des utilisateurs plus expérimentés : grâce à deux modes d'imagerie, une plus grande efficacité, une excellente qualité d'image, une meilleure ergonomie et une adaptabilité aux besoins futurs. De plus, la série HT7800 comprend des technologies pour l'analyse in-situ, la tomographie, la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS), la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM), les liquides ioniques, l'analyse cryogénique, la microscopie électronique à lumière corrélée (CLEM), etc. .

Joignez-vous à nous pour découvrir et explorer l'ère moderne de la microscopie électronique avec la série de microscopes électroniques à transmission Hitachi HT7800.

Mercredi 21 Mars, 21.30

Caractérisation mécanique et électrique à l'échelle nanométrique dans des conditions ambiantes ou sous vide

Les frontières de la science des matériaux réclament de nouvelles méthodes de caractérisation à l'échelle nanométrique.

Dans cette session, nous aborderons spécifiquement les nouvelles techniques uniques destinées à caractériser les propriétés nano-mécaniques et électriques. La combinaison de ces techniques permet tout aussi bien d'étudier des structures à base de polymère que de silicium. Par ailleurs, la facilité d'utilisation garantit ces modes applicables pour une large base d'utilisateurs AFM. La polyvalence de l’équipement permet en outre l'intégration dans différents environnements allant des solutions à l’aide de boîte à gants jusqu'au système sous vide.

Nous vous présenterons les capacités d’un AFM Park Systems NX10 lors de notre workshop.

Merci d'envoyer un mail à margaux.welch@milexia.fr pour vous inscrire au workshop.

Après 45 ans de succès et dans le cadre de notre intégration dans Milexia Développement, nous sommes heureux de vous annoncer que notre nom va évoluer pour passer de Elexience SAS à Milexia France SAS.

Bien que notre nom et notre logo changent, notre mission, notre vision et la valeur de notre entreprise restent les mêmes. Cette nouvelle étape ne reflète que l'évolution et la croissance de notre entreprise.

Notre nouveau nom, Milexia France SAS est maintenant effectif. Notre structure juridique et notre numéro d’immatriculation restent inchangés.Vous n’avez simplement qu’à considérer notre nouveau nom pour vos futurs contrats et commandes.

Découvrez les derniers MEB de table Hitachi : le TM4000 et le TM4000Plus.

Un site dédié aux Microscopes Electroniques à Balayage de Table Hitachi est consultable en cliquant ici.

Pour plus d'informations, n'hésitez pas à nous contacter.

Nouveau contrat de représentation conclue entre ELEXIENCE et la société MOLECULAR VISTA.

MOLECULAR VISTA, société américaine implantée en Californie à San José, développe et commercialise des microscopes à champ proche spécialisés dans les techniques IR-AFM et PiFM-AFM.

Hitachi High Technologies acquiert la Division Analyse Industrielle d’Oxford Instruments.

Rigaku Europe (RESE), actuellement implanté à Ettlingen (Allemagne) déménage prochainement de à Francfort.

Ce changement de localisation géographique s’accompagnera d’une évolution de l’organisation commerciale.

Une personne en cours de recrutement aura pour mission principale de suivre le marché français en étroite collaboration avec Elexience son distributeur historique.

Park Systems renforce sa présence pour le marché européen et ouvre un bureau en Allemagne à Heidelberg.

Ludger Weisser, son Directeur, a une longue expérience dans ce secteur d’activité et a notamment travaillé chez Asylum Research auparavant en tant que Directeur Commerical Europe.

Un laboratoire d’applications est dorénavant à la disposition de nos clients avec plusieurs équipements à disposition.

ELEXIENCE et IBSS ont signé un accord de représentation pour la France, la Belgique Wallonne, le Luxembourg et la Suisse Romande.

La société IBSS, fondée en 2002 par Vince Carlino, développe et commercialise des dispositifs de nettoyage d’échantillons « ex-situ » et « in-situ » par plasma, pour la microscopie électronique.

Les dispositifs sont compatibles avec les MEB, MET, CDSEM de toutes marques.

Cette récompense souligne la constance de PARK SYSTEMS depuis sa création, dans le domaine de l’innovation technologique et prend en compte la satisfaction des utilisateurs qui ont fait confiance à PARK SYSTEMS.

Le MEB compact Hitachi modèle FlexSEM 1000 est modulable. Il peut être utilisé comme MEB de table ou comme MEB conventionnel avec les performances d’un microscope électronique à filament tungstène haut de gamme. Le FlexSEM 1000 peut être utilisé en modes « vide secondaire » et « vide partiel ».

Elexience et Hitachi Power Solutions ont conclu un accord de représentation pour la commercialisation des microscopes/tomographes acoustiques en France, Belgique, Luxembourg, Suisse et en Espagne (via Milexia Espagne - Giza Technologies). 

Hitachi Power Solutions est le leader mondial sur ce marché avec plus de 2100 références et plus de 30 ans d'expérience.

HITACHI a mis au point une nouvelle méthode de préparation permettant l'observation directe, en vide secondaire, d'échantillons hydratés ou fragiles sous le faisceau: le liquide ionique HilEM, IL1000.

Rigaku Corporation a lancé un nouveau site Web, http://www.myminiflex.com, une ressource en ligne qui offre des informations sur les produits, les applications, des vidéos, le détail des logiciels et d'autres contenus connexes du MiniFlex Rigaku, instrument à diffaction X de paillasse.

Communiqué de presse

Hitachi vient de lancer un site Internet pour informer ses clients sur les nombreuses utilisations qu'offrent leur MEB de table TM3030.

Cliquez ici pour accéder au site HITACHI du Microscope Electronique à Balayage de Table TM3030

N'hésitez pas à nous contacter pour plus d'information en complétant le formulaire de notre rubrique contact ou par téléphone.

Hitachi confie à Elexience la commercialisation de sa gamme d'analyseurs thermiques.

Depuis Janvier 2014, Elexience vous propose une newsletter mensuelle, si vous souhaitez la recevoir envoyer un email via la rubrique contact ou à info.physique@milexia.fr avec vos coordonnées.

Vous pouvez télécharger ici les newsletters des mois précédents:

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• E-ACTU Septembre 2015
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• E-ACTU Octobre 2014
• E-ACTU Septembre 2014
• E-ACTU Juin 2014
• E-ACTU Mai 2014
• E-ACTU Avril 2014
• E-ACTU Mars 2014
• E-ACTU Février 2014
• E-ACTU Janvier 2014

Depuis le début du mois d'Octobre, Elexience a signé un partenariat avec Pôles d'Excellences qui revend les équipements que nous commercialisons sur le territoire Marocain.

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