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Département "Instrumentation Scientifique"

Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000/TM4000Plus
Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l’échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB™ ou MEB de paillasse).

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Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM1000 II Hitachi
Le MEB compact HITACHI de troisième génération, modèle FlexSEM1000 II, succède aux modèles SU1510 et FlexSEM1000.

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MEB polyvalent à pression variable SU3800
Le MEB Hitachi SU3800 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

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MEB très grande chambre à pression variable SU3900
Le MEB Hitachi SU3900 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

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MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000
Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

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Microscope Electronique à Transmission basse tension (META) HT-7800 Hitachi
MET 120 kV de nouvelle génération, entièrement numérique à l’ergonomie optimisée. Le MET Hitachi HT7800 basse tension a été conçu pour un large éventail de domaines, de la R&D biomédicale aux nanomatériaux. Il convient pour l'observation des échantillons fragiles et les polymères. C'est également la solution idéale pour les laboratoires d'analyse de l'amiante (META).

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Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau
FIB Triple Faisceau hautes performances HITACHI ETHOS NX5000 Le nouveau FIB d’HITACHI polyvalent pour une préparation d’échantillons de qualité ultime

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Polisseur ionique IM4000 Plus/ArBlade 5000 Hitachi
Les dernières générations de polisseur ionique Hitachi sont adaptées à la préparation de grandes surfaces.

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Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies
Références des métalliseurs sous vide primaire : SC7620 – Q150R S Plus Références des métalliseurs sous vide secondaire : Q150T S Plus – Q150V S Plus – Q300TT Plus – Q300TD Plus – Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : SC7620 – Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)

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Évaporateurs Quorum Technologies
Références des évaporateurs sous vide primaire : Q150R E Plus Références des évaporateurs sous vide secondaire : Q150T E Plus – Q150V E Plus – K975X – K975S Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)

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Platines cryogéniques Quorum Technologies
Références des platines cryogéniques Quorum Technologies : PP3010T - Nouveau

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Point critique Quorum Technologies
Références des points critiques Quorum Technologies : E3100- K850- K850WM

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Décharge luminescente Quorum Technologies
Références des systèmes de décharges luminescentes Quorum Technologies : GloQube – SC7620

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GV10x IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »
Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)

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Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416
Caméra pour MET très haute sensibilité TVIPS XF416 adaptée à l’observation de phénomènes fugitifs et d’échantillons très sensibles.

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NOUVEAU SYSTÈME EBSD THERMO SCIENTIFIC LUMIS
Le système EBSD Thermo Scientific ™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinées.

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S neox : profilomètre optique 3D hautes performances
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, de cinquième génération, SENSOFAR S NEOX procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.

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S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, SENSOFAR S NEOX Five Axis procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.

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S lynx : profilomètre optique 3D compacte
Le profilomètre optique 3D sans contact compact SENSOFAR S LYNX offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d’observation et d’analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l’échantillon et des informations de surface recherchées.

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S mart : module optique 3D
Le module de profilomètre optique 3D sans contact SENSOFAR S MART peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels.

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S onix : module optique 3D ultra rapide
Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d’acquisition et de traitement des données.

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« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR

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Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V
Hitachi introduit un nouveau microscope/tomographe acoustique: le modèle Fine SAT V. Plus rapide (vitesse de balayage jusqu'à 2000mm/s), plus précis (scanner haute définition permettant d'acquérir jusqu'à 2000 millions de points), plus résolutif (défauts visibles à partir du micromètre), le Fine SAT V est pourvu d'une ergonomie optimisée (chargement rapide et sans risque des échantillons, visualistaion de l'échantillon en cuors d'analyse).

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Diffractomètre X de table MiniFlex Rigaku
Rigaku introduit sa sixième génération de diffractomètre à rayons X (XRD) de table.

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NOUVEAU DIFFRACTOMETRE X MATERIAUX SMARTLAB RIGAKU
Le SmartLab, fer de lance de la gamme Rigaku, a été introduit en 2006. De nouvelles technologies de pointe ont été apportées régulièrement au fil des ans.

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