LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions

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Porte-Echantillons/Systèmes pour MET

LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions

La solution « Lightning In Situ TEM Biasing & Heating » permet d'observer la dynamique en temps réel de votre échantillon dans un environnement électrique et thermique contrôlables tout en maintenant la résolution atomique du MET. Les nanopuces spécifiques optimisent l’efficacité des expériences dynamiques visant à mieux comprendre la structure et les propriétés des matériaux observés à l’échelle nanométrique.

 

Le porte-échantillon est l'élément essentiel qui relie la nanopuce au microscope Fabriqués en titane pour une stabilité mécanique optimale, les porte-échantillons à double inclinaison offrent une grande latitude de mouvements pour les applications in-situ.

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Principales caractéristiques :

  • Nano Chips au design spécifique
  • Connexion 4 points assurant une mesure en températures très précise
  • Préparation finale des lames FIB sur le Nano Chip, à fort taux de succès
  • Logiciel Impulse : contrôle avancé des paramètres, analyses en temps réels
  • Température réglable jusqu’à +1300°C, Précision > 95%, Homogénéité > 99,5%
  • Compatibilité avec toutes les pièces polaires des MET Jeol et Thermo Fisher
  • Dérive < 0,5nm/min (selon configuration du MET)
  • Champs électriques max de 300kV/cm (jusqu’à 900°C)

Exemples d’applications typiques :

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Si vous souhaitez obtenir les informations concernant la série « Lightning In Situ TEM Biasing & Heating », veuillez remplir le formulaire "Pour plus d'informations". Un commercial vous contactera pour répondre à vos questions.

 

Documents

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