UVD-STEM Hitachi

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Equipements de préparation d'échantillons pour MEB

UVD-STEM Hitachi

Obtenez des images transmises de haute qualité dans votre MEB Hitachi à moindre coût par rapport à un système STEM dédié avec le tout nouveau support UVD STEM. Le support UVD STEM utilise le détecteur SE à pression variable d'Hitachi et la technologie de scintillateur très haute sensibilité pour permettre la collecte d'images de transmission à haute résolution et à faible bruit.
  • Amélioration du rapport signal sur bruit avec la plaque de réflexion STEM
  • Insertion facile des échantillons
  • Utilisation simple : Placer l'échantillon dans le support et utiliser le détecteur UVD pour obtenir des images en électrons transmis
  • Fonctionne aussi bien sous vide poussé qu’en pression variable
  • Compatible avec les grilles TEM standard de 3 mm

 

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